地質羅盤是地質地貌等野外考察最重要的工具之一。利用羅盤可以測定方位、方向，測量岩層和構造面的産狀等。地質羅盤由刻度盤和在水平面上可以自由轉動的磁針構成，功能主要有識别方向、測量方位、傾角等。刻度盤有兩個，一個是圓刻度盤，一個是半圓刻度盤。圓刻度盤是水平刻度盤，用來讀水平方位角的;半圓刻度盤是用來測量傾角和坡度角的。圓刻度盤從0°～360°，半圓刻度盤從0°～90°，以水平為0°，垂直為90°。羅盤有兩個水準器，一個圓水準器和一個長水準器。圓水準器用來使羅盤處于水平狀态，長水準器用來使傾斜儀處于垂直狀态。

1.磁偏角的校正

在野外使用羅盤時首先要校正磁偏角。各地區的磁北方向與地理北方向不完全一緻，磁北方向與地理北方向的夾角為磁偏角。在閱讀地形圖時，為了将地質地貌要素的地理方位正确标定在地形圖上，需要對羅盤進行磁偏角校正，然後用羅盤的讀數直接代表地理方位。在測區的正規地形圖上可以查到磁偏角，東偏記為“+”，西偏記為“－”。校正時撥動羅盤的刻度盤，東偏時順時針方向撥動，西偏時逆時針方向撥動。嵩山地區的磁偏角是西偏4.5°，校正羅盤時逆時針轉動4.5°。

2.方位的測定

方位角是以正北方向為起點，向順時針方向旋轉一周，劃分為360°。0°和360°重合，正北為0°，正東為90°，正南為180°，正西為270°，分别以N，E，S，W表示。各方向線與正北方向的夾角是方位角。記錄:NW45°，讀作“北西45度”。

用羅盤測定方位時，如果自己位于基點A，要測定目标B位于自己的方位，将羅盤長邊(N/S)平行AB線，将羅盤N端指向目标B，讀磁針N在羅盤上的讀數，即為目标B位于基點A的方位。例如，圖7－1(左)中，B位于A的NE45°。如果自己位于基點A，要測定A點位于目标B點的方位，将羅盤長邊平行于AB線，将羅盤S端指向目标B，讀磁針N在羅盤上所指的讀數即為A點位于B點的何方位。如圖7－1(右)中，A位于B的SW225°。在測量中讀羅盤磁針的讀數前，一定要使圓形水準氣泡居中，即羅盤水平，且使指針穩定下來，或者取左右擺動磁針的平均指數，讀指北針指向刻度環上的數字即為測定的方位值。

3.産狀要素的測定

各種地質界面的産狀要素是一項主要的基礎地質資料，岩層、斷層面、侵入體與圍岩接觸面等産狀要素均可用羅盤進行測量。以岩層為例介紹測量的基本方法。

走向的測定将羅盤的長邊緊貼傾斜岩層面上，然後移動羅盤，使羅盤圓形水準氣泡居中，即使羅盤水平。待指針穩定後，讀出指針的度數，即為走向的方位角。走向有兩個指向，二者相差180°。因此，僅記錄一個方向即可(圖7－2a)。

圖7－1 方位的測定

傾向的測定先将羅盤的北端(N)指向岩層傾斜方向，将羅盤的南端(S)緊貼在岩層層面的走向線上，水平放置(羅盤圓形水準氣泡居中)，讀出指針N在羅盤上的度數，即為傾向方位角，傾斜岩層的傾向隻有一個。在野外實際工作中，隻要測出岩層的傾向，再加上或減去90°即為岩層的走向(圖7－2b)。如果上層面剝露不好或者空間限制隻能在岩層底面進行測量。測量的方法:以羅盤北端(N)緊貼在岩層層面的走向線上，水平放置(羅盤圓形水準氣泡居中)，讀出指針N在羅盤上的度數，即為傾向方位角;或者以羅盤南端(S)緊貼在岩層層面的走向線上，水平放置(羅盤圓形水準氣泡居中)，讀出指針S在羅盤上的度數，即為傾向方位角。

傾角的測定将羅盤長邊順傾斜岩層的坡面側豎，使其長邊全部貼在傾向線上，擺動測斜儀上的長水準器氣泡，使其居中，讀測斜儀指針在刻度盤上的度數，即為傾角值(圖7－2c)。

當一岩層的産狀要素測量完畢後，應立即記錄在野外記錄簿上。例如:

圖7－2 羅盤測量岩層産狀示意圖

走向:NW310°，SE130°

傾向:NE40°

傾角:30°

但因岩層的傾向隻有一個，而且加、減90°即為走向，所以一般情況下用0°～360°的傾向方位角(即傾向)和傾角來表示。例如:NE40°∠30°，表示岩層傾向在北東象限，傾向方位角為40°，傾角為30°，由于走向和傾向成垂直關系，如需走向數據，可以把傾向角加、減90°換算出來。

在露頭不好不能直接測量面狀構造要素時，可借助硬紙闆、野外記錄簿等面狀物體進行測量，将硬紙闆放置于被測面相當的位置或者平行的位置上，将羅盤放置于硬紙闆上進行測量。

測量各種産狀要素時要保證其可靠性、代表性和系統性。在測量産狀之前，首先要保證選擇的構造面是真正要測的構造面，觀察分析構造面，對構造面進行仔細地追索和判别，判斷其真正的産狀。選擇的構造面還要具有代表性，在較大範圍内構造面産狀平整、變化微小時，選擇一點進行産狀要素的測量一般具有代表性;當受到各種要素的影響，使構造面的産狀在一定範圍内有變化時要多測量一些點，這些點必須能夠代表其整體産狀特征。為了把握地質體或構造的空間展布的狀态和變化的規律，在野外實習中要随時關注和随時測量，使要素測量具有系統性。